双光子荧光法
This paper describes two methods for the scattering and absorbed correction in a radioisotope source excited X-ray fluorescence analysis technique, that is two channel counting method and slope correction method.
本文介绍同位素源X射线荧光在磁带磁层厚度测定中,散射和吸收校正的两种方法&双道计数法和斜率校正法。
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